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日本Elionix ENT-5 纳米压痕试验机 薄膜材料硬度计
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日本Elionix ENT-5 纳米压痕试验机 薄膜材料硬度计

日本ElionixENT-5纳米压痕试验机专门对于软质材料(弹性模量:几GPa或更小)和10nm或更小测试深度的测试可以获得优异的重复性和稳定性,这使得100nm或更小的超薄膜的纳米压痕测试成为可能。

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产品特性:纳米硬度计是否进口:否产地:日本
品牌:Elionix型号:ENT-5产品类型:纳米压痕硬度计
测量范围:50x40mm试验力:0.5μN - 2,000mNN允许最大高度:40mm
外形尺寸:-mm重量:-kg加工定制:否

日本Elionix ENT-5 纳米压痕试验机


日本Elionix ENT-5 纳米压痕试验机专门对于软质材料(弹性模量:几GPa或更小)和10nm或更小测试深度的测试可以获得优异的重复性和稳定性,这使得100nm或更小的超薄膜的纳米压痕测试成为可能。

 

适用于各种材料:

l  电镀、硬涂层薄层

l  树脂、聚合物薄膜

l  超薄DLC涂层

l  功能性树脂、表面改性层

l  细颗粒和粉末材料

 

第5代Elionix纳米压痕测试仪

l  通过抑制测量环境中的干扰实现高数据再现性

l  可靠精密的“日本制造”

l  支持从0.5μN到2,000mN的广泛测试负载

 

纳米压痕测试

l  可以获得薄膜或表层的硬度和弹性模量等机械特性。分析加载/卸载曲线以确定特性。

l  分析加载/卸载曲线以确定特性,无需观察压痕

l  符合***14577-1 / JIS Z 2255

 

产品特点:

1.    温度控制

防止样品和试验机热膨胀

环境隔离罩内温度控制在±0.1℃

机架和样品架/载物台使用低热膨胀材料(Nobinite)

减少环境气流的影响

 

2.    高精度定位平台

采用Elionix电子束光刻系统内部开发的高精度“Kusabi”平台

0.1um定位步长

以2,000倍的放大倍率观察材料并设置测量点。

 

3.    主动隔振

抗振楔形高精度平台

主动隔振台

 

4.    软件

日常检查的弹出提示:压头***校正,温度漂移校正。

易于使用的操作性

 

5.    数据再现性

通过抑制振动和温度变化引起的干扰提高数据再现性。

即使连续测量也能获得稳定数据

 

6.    可维护性

易于更换装载装置

易于更换装载装置,将停机时间降至***

 

技术参数:

负载/负载分辨率

高负荷单位:5μN~2,000mN/5nN
  低负荷单位:0.5μN~10mN/0.03nN

加载方式

电磁

测量范围

±50?m

测量分辨率

0.3pm

测量方法

光学的

样本量(典型)

φ50xt3.5mm

可测量区域

X50mm,Y40mm

最小增量

0.1μm

可选配件:

加热架

高负载单元:Max. 加热温度 250℃
  低负荷机组:Max. 加热温度 180℃

冷却架

控温范围:-30℃~100℃

树脂包埋样品的样品架

树脂包埋样品的样品架

定制样品架

可根据要求设计定制样品架

 

可选测试:

表面轮廓测试

压头的表面轮廓特征。 
  用于测量材料表面的粗糙度。

粘弹性试验

这是获得弹性模量 E'、损耗弹性模量 E”和损耗系数的方法。
  在负载下施加小振荡。
  此外,玻璃化转变温度 (Tg) 可以通过加热阶段进行评估。

软化温度测量

这是一种通过使压头与样品上的压头接触恒定负载,同时通过加热支架升高温度来测量软化温度的方法。

水下测试

硬度测试可在水中进行。

微粒抗压强度测试
  (***高负荷单元)

这是用连续载荷的平面压头测量颗粒的断裂强度/变形强度的方法。

颗粒电阻测试
  (仅高负载单元)

颗粒强度测试的附加功能,在压缩时测量颗粒的电阻。

 


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